Sick — . Reflectors and optics - OBF-IVC-660-1 - 2039191

Артикул «Первый ZIP»:153546
Артикул производителя:2039191
Доп. код производителя:OBF-IVC-660-1
Наличие

Наличие

Только под заказ.
Ориентировочный срок поставки: от 28 дней.
Цена

Цена

Требуется запрос производителю.

Для уточнения цены нам необходимо связаться с производителем. Отправляйте запрос по почте, через корзину сайта или через форму заявки.

Ответим на Ваш запрос сегодня в течение дня.

Этот товар не поставляется торгующим организациям. Подробнее.
Доставка

Доставка

По всей России.
  • транспортной компанией на Ваш выбор
  • самовывоз из офиса в Санкт-Петербурге
  • бесплатная доставка до терминала “Деловые Линии” в Санкт-Петербурге
Узнайте, как мы работаем
Коммерческое предложение
Удобно для запроса одной позиции
Добавить в корзину

Товар в корзине.

Перейти в корзину
Удобно для запроса нескольких разных позиций
  • Коммерческие данные

    Масса:15 г
    Страна производства:Германия
  • Технические характеристики

    Description:Optical filter, red, 660 nm, installed between camera and lens, thread size: M30x1
    Accessory group:Optical filters
  • Техническая информация2039191-OBF-IVC-660-1.pdf

О компании Sick

Компания SICK AG, основанная в 1946 году Эрвином Сиком, является ведущим мировым производителем сенсоров и решений на их основе для промышленных применений. Штаб-квартира компании расположена в Вальдкирхе, Германия. В 2023 году SICK AG достигла оборота в 2,3 миллиарда евро и насчитывала более 12 000 сотрудников по всему миру.

Основная деятельность компании сосредоточена на разработке и производстве сенсоров для автоматизации производственных процессов, логистики и контроля технологических процессов. Продукция SICK AG находит применение в различных отраслях промышленности, включая автомобилестроение, электронику, упаковку и многие другие.

Ассортимент продукции компании включает:

Фотоэлектрические датчики: используются для детекции объектов и контроля присутствия. Индуктивные, емкостные и магнитные датчики приближения: предназначены для обнаружения ... Читать далее...